半導電材料（如硅、鍺、化合物半導體、導電高分子、半導體陶瓷等）的電阻率測試，尤其是使用四探針法時，對探針有非常嚴格的要求。這是因為半導體的電阻率對測量條件（如接觸、壓力、注入電流）非常敏感，且探針本身會影響測量結果的準確性和重復性。

以下是半導電材料電阻率測試儀對探針的主要要求：

1.材質與電學特性：

低電阻率：探針本身必須是優良導體（如鎢、碳化鎢、鎢錸合金、鍍金或鍍銥的硬質合金），以最小化探針自身的電阻和熱效應。

高硬度與耐磨性：探針針尖需要非常堅硬（常用鎢或碳化鎢），以：

穿透材料表面可能存在的氧化層或污染層，形成良好的歐姆接觸。

抵抗反復接觸帶來的磨損，保持針尖形狀和尺寸穩定，保證長期測量的重復性。

承受必要的接觸壓力而不易變形。

化學穩定性：探針材料不應與待測半導體材料發生化學反應或擴散，避免污染樣品或改變接觸特性。鎢和碳化鎢在這方面通常表現良好。

高熔點：防止在大電流測試或接觸不良產生火花時熔融。

2.針尖幾何形狀：

尖銳度(曲率半徑小)：針尖必須非常尖銳（曲率半徑通常在幾微米到幾十微米，如10μm-50μm范圍常見）。尖銳的針尖：

減小接觸面積：對于半導體，較小的接觸面積有助于形成更接近理想點接觸的歐姆接觸，降低接觸電阻的非線性和對載流子注入的影響。

穿透表面層：更容易刺破表面氧化層或鈍化層，確保與體材料接觸。

精確定位：對于需要小間距測量的場合（如微區四探針），尖銳針尖是必須的。

針尖形狀一致性：一套四根探針的針尖形狀、尺寸和尖銳度必須高度一致，以確保每根探針的接觸電阻和接觸特性盡可能相同。這是四探針法抵消接觸電阻影響的關鍵前提之一。

3.機械特性與安裝：

剛性：探針桿需要足夠剛性，在施加接觸壓力時彎曲變形極小，保證探針間距的精確性和穩定性。

直線度：探針本身必須非常平直，避免因彎曲導致針尖位置偏離或間距變化。

平行度與共面性(四探針法)：這是最關鍵的要求之一。對于直線排列的四探針：

四根探針的針尖必須嚴格共線且在一條直線上。

四根探針的針尖必須嚴格共面（位于同一水平面上）。任何一根探針針尖高度不一致都會引入顯著的測量誤差。

探針之間的間距必須精確、均勻且已知（常用的有1.0mm,1.59mm,2.0mm等）。間距精度直接影響電阻率計算結果。

穩固安裝：探針必須牢固、無晃動地安裝在探針座上，保證測量過程中間距和位置絕對穩定。通常使用精密彈簧或氣動裝置施加恒定、適中的壓力。

4.接觸要求：

歐姆接觸：探針與半導體材料之間需要形成良好的歐姆接觸。這意味著接觸處的電流-電壓特性是線性的（遵循歐姆定律），接觸電阻相對穩定且可被四探針法有效抵消。

對于某些難以形成歐姆接觸的半導體（如高禁帶寬度的化合物半導體），可能需要專門的表面處理、合金化探針或更高的接觸壓力。

接觸壓力：

足夠高：需要足夠且恒定的壓力來穿透表面層、減小接觸電阻并保持接觸穩定。壓力過低會導致接觸不良、噪聲大、結果不穩定。

適度且可控：壓力過大可能損傷樣品（尤其是薄片、晶圓或器件）或導致探針針尖變形。壓力需要均勻地施加在每根探針上。探針座通常配備精密壓力調節裝置。

重復性：每次測量的接觸壓力應保持一致，以保證測量的可重復性。

5.清潔度：

探針針尖必須保持高度清潔，無氧化、無油污、無殘留物。污染物會顯著增大接觸電阻，導致測量不穩定或錯誤。

需要定期用適當的溶劑（如無水乙醇、丙酮）清潔探針，必要時使用細砂紙或專用研磨膏（極其謹慎地）修復鈍化的針尖，嚴重磨損或污染的探針需要更換。

總結關鍵點：

對于半導體的四探針電阻率測試，理想的探針應具備：

材質：高硬度、高熔點、低電阻率、化學穩定的導體（鎢/碳化鎢及其合金為主）。

針尖：極其尖銳（小曲率半徑），形狀尺寸高度一致。

機械：剛性、平直、四針嚴格共線、共面、間距精確均勻恒定。

接觸：能形成良好歐姆接觸，施加恒定、適中、均勻的壓力。

維護：保持高度清潔，及時更換磨損探針。

選擇和使用建議：

根據樣品選擇：對于硬質材料（如硅、GaAs晶圓），硬質合金探針（鎢、碳化鎢）。對于較軟或怕劃傷的材料（如某些有機半導體、薄膜），可考慮鍍金探針（犧牲一些硬度換取更軟的接觸，但需注意金的遷移問題），或仔細調節壓力。

校準：定期使用標準電阻率樣品對整套探針系統（包括間距）進行校準。

操作：輕拿輕放，避免碰撞探針。確保樣品表面清潔平整。施加壓力時動作平穩。

維護：建立定期清潔和檢查探針狀態（尤其是尖銳度、共面性）的規程。

滿足這些苛刻要求的探針系統是獲得準確、可靠、可重復的半導電材料電阻率測量結果的基礎。