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四探針電阻測試儀的測試要根據不同材料特性需要配置不同的探頭
點擊次數：845 發布時間：2023-02-07
四探針電阻測試儀所用的測量方法是一種廣泛采用的標準方法，在半導體工藝中最為常用。其主要優點在于設備簡單，操作方便，精確度高，對樣品的幾何尺寸無嚴格要求。除了用來測量半導體材料的電阻率以外，在半導體器件生產中廣泛使用四探針法來測量擴散層薄層電阻，以判斷擴散層質量是否符合設計要求。
四探針電阻測試儀的測試要根據不同材料特性需要，配置不同的探頭：
1、高耐磨碳化鎢探針探頭，測量硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；
2、專用探頭可測試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻；
3、配合四端子測試夾具，測量電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻；
4、球形鍍金銅合金探針探頭，測量柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。
四探針電阻測試儀操作步驟：
1、先松開筆身尾部端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接。
2、輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片絕緣片與銅片之間的位置，將斷針從銅片卡口座里取下即可。
3、特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。
4、安裝時銅片及絕緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲。
5、將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部。
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